Исследование тест-платы МПП-4 -13T

3.1.1. Измерение паразитной емкости между соседними печатными проводниками, расположенными в одном слое. Подготовить прибор Е7-5А к работе. С помощью универсальных щупов прибора подсоединиться к выходным клеммам стенда или контактным площадкам платы в по­следовательности, указанной в табл.1, и произвести измерения пара-зитной емкости Сп. Результаты измерений записать в предвари­тельно подготовленную табл.1. Ознакомиться с расчетом погонной па­разитной емкости по формулам (1) - (3) и рассчитать значения

где С_{п изм} - измеренное значение паразитной емкости, пф, l - длина проводников, расположенных рядом (cм. табл.1), см.

3.1.2. Измерение межслойной паразитной емкости. Подготовить прибор Е7-5А к работе. С помощью универсальных щупов прибора под­соединиться последовательно к выходным клеммам стенда, указанным в табл. 2. и произвести измерения межслойных паразитных емкостей. Результаты измерений записать в предварительно подготовленную табл. 2. Рассчитать значения диэлектрической проницаемости межслойной изоляции

где С изм - измеренная емкость в пф, d - толщина межслойной изоляции, cм, S - площадь обкладки конденсатора, см².

Для платы МПП-4-13Т диаметр обкладок составляет 16 мм, а коэффициент 0,0885 имеет размерность пф/см.

3.1.3. Расчет коэффициента взаимоиндукции между печатными проводниками.

Измерить длину параллельных проводников между кон­тактными площадками согласно табл.3. Ознакомиться о расчетом коэф­фициента взаимоиндукции M но формулам (4), (5). Рассчитать коэффициент взаимоиндукции для соседних проводников (рис.7 а, б). Ре­зультаты занести в табл. 3.

Date: 2016-05-18; view: 395; Нарушение авторских прав