Автоматическая система оптического контроля

Общий вид автоматической системы оптического контроля представлен на рис. 3.

Во время перемещения испытуемая подложка освещается и изображение, отраженное от стекла регистрируется 9 камерами. При этом достигается обнаружение всех поверхностных и объемных дефектов стекла. Зарегистрированное изображение анализируется системой на основе базы данных дефектов. Дефекты распознаются и классифицируются. Если прибор автоматически определяет, что обнаружены дефекты в количестве, превышающем пороговый допустимый уровень, то выдается команда на перенаправление стекла в буферную кассету для хранения дефектных стекол.

Распознавание дефектов основано на базе данных, сформированной в результате обучения системы на предмет распознавания дефектов. При этом достигается классификация дефектов и устанавливается их предельный уровень, как для самих дефектов, так и для их количества. Периодически может возникать необходимость проведения переобучения системы, в частности при переходе на новые партии стекла, после технического обслуживания или ремонта автоматической системы оптического контроля. Доля отбракованного стекла может зависеть от используемой базы данных. В случае если доля отбраковки превышает типичную величину, то стекла, автоматически исключенные из процесса, проверяются с использование микроскопа (см. рис 4).

Система автоматически генерирует отчеты, которые также необходимо анализировать.

Настройка системы должна соответствовать требованиям спецификации SP-STANDARD-GL-SPC-11:

Объемные дефекты:

размер, мм допустимое кол-во на лист стекла

<=0,1 автоматическая система обнаружить не способна, стекло

проверяется на этапе выбора поставщика и периодически

неавтоматическими методами, требование: количество пузырей

размеров от 0,01 до 0.1 мм не должно превышать 5 на кв. см

0,1<X<=0,5 не более 15

0,5<X<=1,0 не более 2

1,0<X<=3,0 не более 1

>3,0 не допускается