Охарактеризуйте типовой технологический процесс биполярных микросхем

2. Охарактеризуйте типовой технологический процесс микросхем, выполненных по МДП-технологии.

5. Охарактеризуйте ИМС по степени интеграции и по функциональному признаку

По степени интеграции

Количественный показатель сложности ИС - степень интеграции.

По ГОСТ 17021-81: К' = lgN, где N - число элементов и компонентов; степень интеграции К получается путём округления до ближайшего целого К = [К'] (N=300, К=3).

Выделяют: малые ИС (МИС); средние ИС (СИС); большие ИС (БИС); сверх большие (СБИС).

АИС 1 30 100 300

МИС СИС БИС СБИС

ЦИС 1 100 1000 100000

IC MSI LSI VLSI

IC - Integrated Circuit;

MSI - Medium Scale Integration;

LSI - Large Scale Integration;

VLSI - Very Large Scale Integration.

Иногда оценивается плотность упаковки: и .

По функциональному назначению (виду обрабатываемых сигналов)

1. Аналоговые ИС (усилители, компараторы, линейные стабили­заторы, ШИМ-контроллеры, модуляторы, демодуляторы и т.д.).

2. Цифровые ИС (элементарная логика, триггеры и триггерные устройства, преобразователи кодов, АЛУ, микропроцессоры, ПЛИС и т.д.).

Смешанные ИС (ЦАП, АЦП, микроконтроллеры и т.д. - очень широкий класс устройств).