Проблемы тестирования систем

Цифровые вычислительные системы ставят уникальные проблемы поиска неисправностей, что объясняется их организацией и структурой. Как и в других электронных системах, компоненты компьютера по разным причинам отказывают, что приводит к частичному или полному выходу систем из строя. Архитектура вычислительной системы часто превращает поиск неисправного компонента в сложную и длительную процедуру.

Значительная часть компонентов компьютера реализована на больших интегральных схемах (БИС), благодаря которым законченные подсистемы компьютера поставляются в виде готовых блоков. Примером такого блока в виде БИС служит сам микропроцессор. По мере все большего уплотнения элементов в БИС проблемы их функционального тестирования резко усложняются. Любая БИС до поставки подвергается лишь ограниченному тестированию, а отказы могут проявиться при эксплуатации из-за возникновения комбинаций сигналов, которые не применялись в процессе тестирования, или таких изменений некоторого параметра- компонента, которые вызывают нехарактерное поведение микросхемы.

Правильная работа вычислительной системы требует исправных, аппаратных средств и, безошибочного программного обеспечения. Часто это не так, и программы, считавшиеся полностью работоспособными, в определенных обстоятельствах могут давать неправильные результаты. Программа может работать правильно на конкретных тест - наборах, но отказывает при эксплуатации из-за получения непредвиденного набора кода, который она не может обработать. Такие ситуации возникают в тех программах, которые вследствие плохой конструкции не допускают ввода информации неопытным оператором, что приводит к кажущемуся отказу системы.

Кроме таких видов отказов имеются и отказы, возникающие в системе после некоторого срока эксплуатации. В общем случае они вызываются электрическими отказами из-за неисправностей компонентов или, что происходит гораздо реже, программными отказами из-за искажения хранимых в памяти кодов команд.