Выполнение лабораторной работы. Исследуемый объект помещается на специальную площадку в верхней части прибора

Исследуемый объект помещается на специальную площадку в верхней части прибора. Затем с помощью рычажка отключается ветвь ОВ (содержащая эталонное зеркало), при этом прибор работает как обычный микроскоп. Наводя на резкое изображение предмета, тем же рычажком подключают ветвь ОВ, наблюдают в окуляр предмет с наложенными на него интерференционными полосами. При этом возможны два варианта расположения полос (рис 3.8) – либо случай а), либо случай б). Сняв отсчеты с помощью окуляр-микрометра и сделав вычисления в соответствии с указанными вариантами расположения полос (случай а или б), рассчитаем искомую величину .

Для а)

, (3.11а)

для б)

. (3.11б)

Следует обратить внимание на то, что величины отсчетов по окуляр-микрометру в указанных соотношениях входят как отношения разностей, поэтому единицы измерений для этих величин безразличны. Это позволяет применить весьма удобный способ снятия этих отсчетов. Для этого надо по вернуть окуляр-микрометр так, чтобы линии перекрестия были параллельны интерференционным полосам (рис 3.9). При этом все отсчеты будут увеличены в раз, так как линейка расположена по отношению к измеряемому направлению под углом в . Однако это, как видно из выражений (3.11а) и (3.11б), не исказит результата, поскольку этот множитель присутствует одновременно и в числителе, и в знаменателе этих выражений.

№	А1	А2	А3	a	L

Результаты измерений удобно свести в таблицу следующего вида, так как результаты измерений А₁, А₂, А₃ плавно меняются от измерения к измерению (плывут). Это объясняется высокой чувствительностью прибора к изменениям внешних воздействий, прежде всего к температуре. Однако разности этих величин достаточно стабильны, и именно их надо обрабатывать для получения результата.

Контрольные вопросы

1. Назначение и принцип действия прибора.

2. Почему прибор называется микроинтерферометр?

3. Назначение компенсационной пластины.

4. Как изменится интерференционная картина при изменении угла наклона зеркала В (рис 1)?

5. Как изменится интерференционная картина при повороте зеркала В вокруг оптической оси (рис 1)?

6. Как изменится интерференционная картина при смещении объекта А вдоль оптической оси в пределах глубины резкости?

7. Как изменится интерференционная картина, если после источника света поместить светофильтр? Что будет, если поменять светофильтр на другой, у которого длина волны пропускания меньше?

4. Лабораторная работа “Дифракция на решетке”

Целью работы является ознакомление с дифракцией на периодических структурах и экспериментальное определение количественных соотношений между геометрическими параметрами дифрагирующего объекта, оптической системы, дифракционной картины и длиной волны излучения.