Порядок выполнения работы. Изучение шумов в счетном тракте

Изучение шумов в счетном тракте.

Поместить камеру вне нейтронного поля.

1.1. Определить минимальный уровень дискриминации электронных шумов счетного тракта.

Напряжение на камере 0В.

Измерять и фиксировать в отчете скорость регистрации шумов увеличивая уровень дискриминации от 0,4В с шагом 0,1В. Результаты занести в таблицу Ф1.1.1. Считать минимальным уровень дискриминации при скорости счета 1 имп/с

Определение уровня дискриминации шумов электронных схем и

α частиц радиоактивного распада ²³⁵U Таблица Ф1.1.1

1.2. Определить минимальный уровень дискриминации электронных шумов счетного тракта и сигналов от a частиц радиоактивного распада ²³⁵U.

Напряжение на камере 250В.

Измерять и фиксировать в отчете скорость регистрации шумов увеличивая уровень дискриминации от 0,4В с шагом 0,1В. Результаты занести в таблицу Ф1.1.1. Считать минимальным уровень дискриминации при скорости счета 1 имп/с

1.3. Принять окончательно в качестве минимального уровня дискриминации шумов большую из величин, определенных в пп 1.1 и 1.2.

Построение счетной и дискриминационной характеристик камеры КНТ-31-1М.

Счетная характеристика - зависимость скорости регистрации нейтронов от напряжения на камере при неизменном уровне дискриминации.

Дискриминационная характеристика - зависимость скорости регистрации нейтронов от уровня дискриминации U _д при неизменном напряжении на камере.

Поместить камеру в нейтронное поле. Изолировать корпус камеры от соприкосновения с установкой. Результаты измерения числа зарегистрированных нейтронов занести в таблицу Ф1.1.2. Время измерений - 100 с.

Число зарегистрированных нейтронов за 100 с Таблица Ф1.1.2

Уровень дискрими- нации, В	Напряжение на камере, В
Число импульсов N за 100 с
N	ln(N)	N	ln(N)	N	ln(N)	N	ln(N)
U д мин									+-
U д мин + 0,5									+-
U д мин + 1,0									+-
U д мин + 1,5									+-
	+-	+-	+-	+-

По данным таблицы Ф1.1.2 построить в полулогарифмическом масштабе семейства счетных ln(N) = F(U_Д) и дискриминационных ln(N) = F(U_K) характеристик ионизационной камеры деления.

Производные рассчитать методом наименьших квадратов в предположении, что счетная и дискриминационная характеристики - линейные (использовать программу LAB1).

3. Расчет ΔN/N

Полагая, что дрейф напряжения и питания и уровня дискриминации есть независимые случайные величины, рассчитать относительную величину нестабильности счетного канала вследствие возможного дрейфа U_Д и U_К на 1% от номинала (10В и 400В, соответственно) по формуле:

. (1.1.1.)

Результаты расчета занести в таблицу Ф1.1.3.

Руководствуясь данными Таблицы Ф1.1.3 выбрать рабочее напряжение на электродах камеры.