В таблице 2 приведены применяющиеся на данный момент методы измерения размеров наночастиц[Kecskes et al., 2003]
Таблица 2.
Методы анализа
| Явления или процессы, лежащие в основе данного метода
|
Электронная микроскопия
| Анализ образца с помощью пучка ускоренных электронов
|
Просвечивающая электронная микроскопия
| Просвечивание образца пучком
Электронов с определением размера и внутренней структуры частиц
|
Сканирующая (растровая) электронная микроскопия
| Сканирование поверхности образца пучком электронов с одновременной регистрацией вторичных электронов и получение объемного изображения
|
Сканирующая зондовая микроскопия
| Анализ с помощью зонда, рельефа, поверхности образца
|
Сканирующая туннельная микроскопия
| Анализ рельефа токопроводящих поверхностей путем фиксирования величины тунельного тока, возникающего между острием зонда и поверхностью образца
|
Атомно-силовая микроскопия
| Анализ рельефа и механических свойств поверхностей путем фиксирования величины Ван-дер-Вальсовых сил, возникающих между острием зонда и поверхностью образца
|
Светорассеяние (метод статистического рассеяния света
Фотонная корреляционная спетроскопия (метод динамическогого рассеяния света)
| Определение размера частиц по интенсивности рассеянного света
Определение размера частиц по коэффициенту диффузии, определяемого путем интенсивности и частотных характеристик рассеянного света
|
Малоугловое рассеяние (рентгеновских лучей и нейтронов)
| Оценка размера частиц по угловой зависимости интенсивности диффузного рассеяния (в области малых углов)
|
Дифракционные методы (рентгеное-электроно-нейронография)
| Диффузия излучения на кристаллической решетке образца с получением дифрактограммы и оценка размеров кристаллов по величине уширения дифракционных максимумов
|
Седиментация
| Определения размера частиц по скорости их оседания
|
Адсорбционный метод (БЭТ)
| Определения удельной поверхности (размера частиц) образца путем измерения величины низкой температурной адсорбции и инертных газов (азота)
|