Параметры хроматографического пика

Оксиды. Классификация, номенклатура, физические и химические свойства.

Оксиды HeO MeO. Оксидами называют сложные вещества, состоящие из двух элементов один из которых кислород (например: CaO, Fe₂O₃, SO₂ и т.д.)

Оксиды делят на две группы: несолеобразующие (их немного, например NO,CO) и солеобразующие (их подавляющие большинство). В отличие от несолеобразующего каждому солеобразующему оксиду соответствует определенный гидроксид (основание, амфотерный гидроксид или кислота). В зависимости от этого самообразующие оксиды подразделяют на основные, амфотерные и кислотные. Основные оксиды образованны металлами с низким значением степени окисления (+1,+2), например Na₂O, K₂O, CaO, MgO. Все основные оксиды – твердые вещества. Кислотные оксиды могут быть образованы как неметаллами в различных степенях окисления, так и металлами только в высокой степени окисления (больше 4),например:CO₂, Cl2O, P₂O₅, CrO₃. Кислотные оксиды, образовавшие металлами при обычных условиях,- твердые вещества, а образовавшие неметаллами- не только твердые, но и жидкие, и газообразные. Все амфотерные оксиды- твердые вещества. Изображение лягушки (представитель класса амфибий) указывает на двойственный характер амфотерных оксидов, проявляемый ими при химических реакциях. Химические свойства оксидов. Все основные оксиды реагируют с кислотами,кислотные с щелочами, амфотерные - с кислотами и щелочами. Продукты таких реакций соль и вода. По этому же принципу взаимодействуют друг с другом оксиды (основные с кислотными,амфотерные с теми и другими), в результате реакции всегда образуется соль. Амфотерные оксиды с водой не взаимодействуют.

Основные понятия метрологии химического анализа (правильность, сходимость, воспроизводимость, точность, пределы обнаружения).

Метрология – наука об измерениях и методах достижения их единства и требуемой точности. Один из основных разделов метрологии посвящен методам определения погрешности измерений и созданию эталонов.

Метрологическими характеристиками методик анализа помимо погрешности являются правильность, воспроизводимость, точность, а при определении микроконцентрации также предел обнаружения.

Правильностью измерений называют качество измерений отражающее близость к нулю систематических погрешностей.

Сходимостью измерений называют качество измерений, выполняемых в одинаковых условиях.

Воспроизводимостью измерений называют качество измерений, отражающее близость друг к другу результатов измерений, выполняемых в различных условиях (в разное время, разные методы..)

Точностью измерений называют качество измерений, отражающее близость их результатов к истинному значению измеряемой величины.

3. Количественный анализ. Методы расчета хроматограмм Хроматографический метод – относительный метод анализа. Измеряемая концентрация на выходе сильно отличается от концентрации в анализируемой пробе. При вводе пробы в колонку она сразу же разбавляется в детекторе газом-носителем, при прохождении пробы через колонку происходит дополнительное размывание в результате на выходе концентрация компонентов совсем другая. Для проведения количественного анализа необходима градуировка – установление связи между первоначальными концентрациями в пробе и сигналами, полученными на выходе из колонки. Хроматограф – определяется как индивидуально градуируемая система.

Метод абсолютной градуировки. Метод заключается в построении графика зависимости площади или высоты пика от содержания соединения в пробе. При выполнении количественного анализа по методу абсолютной градуировки предъявляется высокие требования к точности и воспроизводимости дозирования пробы. Кроме того необходимо строго соблюдать тождественность условий при градуировке прибора и при реальных анализах. Наиболее воспроизводимое дозирование выполняется газовым краном-дозатором или специальными дозаторами жидкости.

Метод внутреннего стандарта. В методе внутреннего стандарта к известному количеству анализируемого образца добавляется известное количество не содержащегося в нём эталонного соединения – внутреннего стандарта.

Недостатки метода внутреннего стандарта:

трудности при выборе внутреннего стандарта в некоторых случаях;

необходимость подготовки пробы – добавка стандарта и возможное введение дополнительной погрешности.

Метод внутренней стандартизации. В методе внутренней нормализации процентное отношение анализируемого соединения в пробе определяют отношением его площади к сумме площадей всех компонентов на хроматограмме. В этом методе необходимо измерять количественные параметры всех пиков и приводить с помощью поправочных коэффициентов к единой шкале чувствительности детектирования.

Параметры хроматографического пика

Выходной сигнал анализируемого соединения имеет форму треугольника или пика, это обычно участок нулевой линии, на котором возникает сигнал при выходе анализируемого соединения из хроматографической колонки. Нулевая или базовая линия – это участок, соответствующий нулевой концентрации анализируемого соединения. Запись пика исследуемого соединения вместе с участками нулевой линии до и после пика называется хроматограммой. Высота пика – это расстояние от максимума пика до его основания, измеренное параллельно оси отклика детектора. Ширина пика у основания – это отрезок основания пика, отсекаемый двумя касательными, проведёнными в точках перегибов восходящей и нисходящей ветвей хроматографического пика. Ширина пика на полувысоте – это отсекаемый пиком отрезок линии, проведённой параллельно основанию пика на середине его высоты. Площадь пика – это площадь части хроматограммы, заключённой между пиком и его основанием.

Важным параметром пика является коэффициент асимметрии, который применяется для сравнения различных твёрдых носителей, адсорбентов и всей газовой системы хроматографа в целом. В идеальных условиях пик симметричен. На практике пики по разным причинам в основном несимметричны.

Асимметрия пиков ухудшает разделение и затрудняет количественную обработку.

Асимметричные пики появляются при разделении на неоднородных сорбентах. Асимметрию пиков оценивают относительно полуширин пиков на половине высоты (рис.1.2) отношением отрезка БВ к АБ, либо отношением отрезков ДЕ к ГД на 1/10 высоты пика от основания. Точнее пользоваться отношением площадей половин пика – отношением заштрихованной части пика к не заштрихованной