Методика проведения эксперимента. Работа выполняется с помощью монохроматора универсального малогабаритным (МУМ)., Внешний вид на рис.1

Работа выполняется с помощью монохроматора универсального малогабаритным (МУМ)., Внешний вид на рис.1. Оптическая схема МУМ приведена на рис. 2

рис 1

рис 2

Исследование спектрального состава излучения направленного в монохроматор осуществляется следующим образом. Излучение от лампы 1 через конденсор 2 попадает на входную щель 3 и посредством зеркала 4 направляется на вогнутую дифракционную решетку 5, которая выполняет роль фокусирующего и диспергирующего элемента. В изделии применена решетка с переменным шагом нарезки и криволинейными штрихами, что дает возможность значительно скомпенсировать расфокусировку и другие аберрации. Дифрагированное решеткой излучение направляется в выходную щель монохроматора 7 (при выведенном плоском зеркале 6) или в выходную щель 8 (при введенном зеркале 6).

В установке используются сменные щели, постоянной, но различной ширины. Для получения большей спектральной чистоты выделяемого излучения при работе в области спектра 290... 710 нм входная и выходные щели устанавливаются в положение I, а при работе в области спектра 200...290 и 710...800 нм щели устанавливаются в положение II. Номинальные размеры сменных щелей и обозначение положения щели нанесены на поверхностях щели. Для установки щелей в корпусе монохроматора предусмотрены гнезда. Переключение зеркала 6 осуществляется перемещением от себя (к себе) рукоятки (рис. 2), расположенной на боковой стенке корпуса монохроматора со стороны выходной щели.

Сканирование спектра осуществляется поворотом решетки 5 вокруг оси О на угол в пределах 6°54' до 28°44'. Закон движения решетки обеспечивается синусным механизмом, в котором для перемещения опорной поверхности служит винт. Системой зубчатых передач синусный механизм связан с решеткой рукояткой, расположенной на торцевой стенке монохроматора. и цифровым'" механическим счетчиком, вмонтированным в корпус монохроматора, с помощью которого осуществляется непосредственный отсчет длин волн с точностью ± 0,2 нм.